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BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述:BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-06-17
  • 訪  問  量: 4775

詳細介紹


產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀


基本性能指標

粒徑檢測

 粒徑范圍  0.3 nm – 10 μm
 最小樣品量 40 μL
 檢測角度  173 ° + 11.2°
 分析算法 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

 Zeta范圍  無實際限制
 電泳遷移率范圍  >±20 μ.cm/V.s
 電導(dǎo)率范圍  0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍 2 nm – >120 μm  

分子量測試

分子量范圍 342 Da – 2 x 107 Da  

微流變測試

測試能力 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?

趨勢測試

模式  時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

 溫控范圍 -15°C - 120°C
 冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
 標準激光光源  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
 相關(guān)器  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍
 檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)
光強控制 0.0001%  - 100%,手動或者自動










檢測參數(shù)

動態(tài)光散射

●流體力學(xué)尺寸 Dh

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●計算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J


電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率


趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態(tài)光散射

● 絕對分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A2



選配件

動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險。


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。


BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

0°光電模塊

0°PD+CMOS模塊,分散液折射率,沉降法粒度和顆粒物濃度測試。



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